| 产品特性：日本原装 | 是否进口：是 | 原产国/地区：日本 |
| 加工定制：否 | 类型：非接触式光学测厚仪 | 品牌：日本otsuka大塚电子 |
| 型号：Emios | 测量范围：1.2mm | 订货号：日本otsuka大塚电子 |
| 货号：Emios | 显示方式：数显 | 电源电压：100-220V |
| 外形尺寸：302*366*410mm | 是否跨境货源：是 | 主要下游平台：其他 |
| 主要销售地区：其他 | 有可授权的自有品牌：否 |
千斗工业品-专注生产检测设备、电子测试设备、理化分析仪器、计量工具、工业控制仪表等日本与韩国工业品一站式代购与销售，如有需要可直接致电咨询。
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日本otsuka大塚电子 非接触式光学测厚仪/膜厚计 Emios
“一步操作”是一种追求用户友好性而无需任何繁琐工作的设备，您可以通过设置样本立即看到结果。
该设备旨在缩短检查过程，无需校准线即可轻松找到具有高精度和高分辨率的厚度。
由于使用了Otsuka Denshi的原始光学方法，因此可以在不接触的情况下高精度地测量不透明，粗糙的表面以及容易变形的样品，同时实现了紧凑的空间节省。
特长
无需校准线，您就可以轻松找到数字中的厚度值。
由于距离是用光测量的，因此结果值没有变化，从而实现了高精度和高分辨率。
独特的设计使其紧凑，节省空间
由于光斑直径小，因此不受厚度不均的影响。
